简介 ：

Sigma 系列产品

用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜

灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能

将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。

Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有**的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得精准可重复的分析结果。

用于清晰成像的灵活探测

l  利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。

l  利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。

l  利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。

Sigma 的 4 步工作流程节省大量的时间

自动化加速工作流程

l  4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

l  首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

l  接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。*后使用工作流程的*后一步，将结果可视化。

使用**的 EDS 几何探测器加速 X 射线分析

高级分析型显微镜

l  将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma **的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

l  在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

l  获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。

基于成熟的 Gemini 技术

l  Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。

l  Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。

l  Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。

可视化及分析软件

蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro

此解决方案可为X射线，FIB-SEM，SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。

基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程