场发射扫描电子显微镜
型号:Sigma
品牌:Zeiss
产地:德国
描述:
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有**的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。简介 :
Sigma 系列产品
用于高品质成像与高级分析的场发射扫描电子显微镜
灵活的探测,4步工作流程,高级的分析性能
将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合,利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选:用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间:设置成像与分析步骤,提高效率。
Sigma 300 性价比高。Sigma 500 装配有**的背散射几何探测器,可快速方便地实现基础分析。任何时间,任何样品均可获得精准可重复的分析结果。
用于清晰成像的灵活探测
l 利用先进探测术为您的需求定制 Sigma,表征所有样品。
l 利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。
l 利用新一代的二次探测器,获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器,在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。
Sigma 的 4 步工作流程节省大量的时间
自动化加速工作流程
l 4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中,从快速成像和节省培训首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
l 首先,先对样品进行导航,然后设置成像条件。
l 接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。*后使用工作流程的*后一步,将结果可视化。
使用**的 EDS 几何探测器加速 X 射线分析
高级分析型显微镜
l 将扫描电子显微镜与基本分析相结合:Sigma **的背散射几何探测器大大提升了分析性能,特别是对电子束敏感的样品。
l 在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。
l 获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角,获取完整且无阴影的分析结果。
基于成熟的 Gemini 技术
l Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响,并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。
l Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率,通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。
l Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。
可视化及分析软件
蔡司推荐您使用Object Research Systems (ORS) 的 Dragonfly Pro
此解决方案可为X射线,FIB-SEM,SEM以及氦离子显微镜获取的三维数据进行可视化三维重构和分析。
基于Visual SI Advanced系列, Dragonfly Pro 能提供高清解析度可视化技术和优异的图形处理技术。Dragonfly Pro支持通过简单易用的Python脚本进行定制。用户可以完全掌控3D数据后期处理环境和流程